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半导体设计和制造 – 泰克半导体测试方案

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泰克及集团吉时利茶叶品牌,作为从晶元到机系统的专科半导体基带电子器件技术器件测评情况报告。是指半导体基带电子器件技术器件相关材料测评网上软件、半导体基带电子器件技术器件加工过程测评网上软件、基带电子器件开发测评网上软件、基带电子器件验证通过测评网上软件等。
  • 半导体芯片材质測試平台网站其中包括:

    针对晶元级半导体材料或半导体器件,泰克提供半导体参数分析仪(4200A-SCS),用于测试分离器件、材料的三大特性:1、直流特性,如IV曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线等; 2、电容电压特性CV曲线(CVU);3脉冲特性测试(PMU),支持超高速脉冲测试。支持以上特性的多通道同步测试。

    针对高功率半导体材料或半导体器件,泰克提供高功率晶体管参数曲线图示仪(2600B-PCT),或称晶体管曲线追踪仪,支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试。

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    针对大规模测试,如晶元上多点测试,复杂系统的自动化测试,泰克提供自动化半导体参数测试系统(S500/S530/S540),支持各类晶元Wafer和MEMS的自动化、半自动化参数测试。广泛用于晶元的失效分析测试(FA),质量控制测试(QA),可靠性分析测试(RA)。其中S540支持高压功率半导体自动化参数测试。

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    针对高速串行芯片设计,泰克提供完整的接收端容限测试解决方案,配备高速误码率分析仪,及一致性测试夹具、一致性测试软件等,支持的标准覆盖各类常用标准。