中山大学半导体材料与器件特性表征实验室
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- 测试精度高，可以测到晶圆级器件
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弱电流测量
电容（滤波电容器等）器漏电的校正；半导体材料元件和晶圆片、MOSFET和PIN光电产品肖特基二极管的感应功率校正；PMT的光校正；APD逆向感应功率校正、亚铁离子束感应功率校正，、CNT的IV基本特性等的范例介紹。典型应用下载
高阻测量
使用静电计或皮安计来测量印制电路板的表面绝缘电阻，其典型范围在107Ω到1016Ω；绝缘材料电阻率的测量，包括体电阻率和表面电阻率；四探针技术和范德堡技术进行半导体电阻率的测量；高值电阻器电压系数的测量。
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高源内阻电压测量
利用SMU和除如何消除静电计认定滤波电袋子的介电消化吸收的性能；分析化学反应实验英文中利用除如何消除静电计选择pH值的精确自动测量和用化合物进行工业认定不同化合物的溶液浓度，还常做精确自动测量药液的导电率。典型应用下载
电荷测量
操作靜電计的库仑能力和步进驱动器电压降源来量测滤波电容；操作法拉第杯量测材料上的靜電荷。典型应用下载
低电压测量
规范标准电池充电的校验；通过温差感应器器及纳伏表量测抓分辩率的温差和微热能量；通过六段均衡性桥量测霍尔的电压和内阻率。典型应用下载
低阻测量
选用微欧姆计或纳伏表与工作电流源来检测的学习功率功率电阻器、超导体功率功率电阻器和导体功率功率电阻器率。典型应用下载
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